日本nanogray X射線測厚儀SX-1100
更新日期：2024-05-15
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廠商性質：經銷商
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簡要描述：
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100
測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。以非接觸方式（軟 X 射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。不是直接測量厚度，而是通過與參考物質比較來計算厚度和密度（基重）。
通常，為了測量片材寬度方向的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶進行測量。激光位移計一般用作非接觸方式測量厚度的手段，但如果激光位移計安裝在掃描儀上，在運輸過程中只能以遠低于激光位移計的精度進行運輸, 導致結果. 高精度測量是困難的。
另一方面，在X射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中，測量的是空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但樣品的衰減遠大于，傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進行測量。
軟X射線測厚儀的一般特點
無需規(guī)定輻射處理負責人或X射線工作負責人或設置控制區(qū)域
（需要通知勞動標準檢查辦公室）路徑錯誤可以忽略
高元素依賴性
與傳統(tǒng)的軟 X 射線測厚儀相比，我們的軟 X 射線測厚儀的特點
探測器和 X 射線源結構緊湊、重量輕，甚至可以安裝在狹窄的線路中。
測量范圍廣（材料/厚度）
用途
銅箔、鋁箔、不銹鋼箔
電池電極
陶瓷（薄片、晶片）
玻璃纖維布
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100
X射線測厚儀SX-1100規(guī)格 | |
| 物品 | 規(guī)格 |
|---|---|
| 姓名 | X射線測厚儀SX-1100 |
| 測量方法 | X射線透射法 |
| 檢測方法 | 閃爍探測器法 |
| 測量對象 | 根據(jù)薄膜、箔等測量對象進行優(yōu)化設計 |
| 測量間距 | 標準2mm（也可提供更細間距） |
| 掃描寬度 | 標準150-3000mm（也可提供其他寬度） |
| 掃描速度 | 15-200 毫米/秒（標準） |
| 框架結構 | O型及其他各種車架 |
| 光斑尺寸 | 約φ7.5mm（標準）（工作中） |
| X射線源 | 70 x 83 毫米 x 250 毫米（標準） |
| 檢測單元 | 70 x 83 毫米 x 220 毫米（標準） |
| 電源 | 100V單相1kVA |
